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低温测试

一、低温测试介绍

低温测试的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。


二、低温试验定义

把试样暴露在低温环境中进行的试验,通常用温度和试验持续时间表示严酷等级。


三、参数、范围

室温~-70℃


四、测试设备

小于1M³,1M³,15M³


五、低温条件下试件的失效模式

产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。


六、低温的影响

1、使材料发硬变脆;

2、润滑剂粘度增加,流动能力降低,润滑作用减小;

3、电子元器件性能发生变化;

4、水冷凝结冰;

5、密封件失效;

6、材料收缩造成机械结构变化。


七、应用范围

低温测试主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

方法标准

GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》

IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》


低温测试对测试温度及测试时长没有固定的标准,需要委托方根据自身情况或客户要求自己确定测试条件。制定测试条件时可参考产品实际的存储环境、运输环境及使用环境等。常做的温度是-10至-35°C,时长有从几小时到几周不等。低温测试也没有固定的判定标准,需要委托方根据自身情况或客户要求自己确定。一般都是针对测试后产品外观、功能、性能受影响的程度。

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